液晶面板表面缺陷檢查光源介紹

發(fā)布時(shí)間：2023-12-07　點(diǎn)擊量：1418

液晶面板表面缺陷檢查光源介紹

隨著新一代信息通信技術(shù)的迅猛發(fā)展，作為終端設(shè)備的智能手機(jī)、平板電腦、智能家居等產(chǎn)品的市場需求持續(xù)增長，液晶面板生產(chǎn)規(guī)模急劇增大，成為信息產(chǎn)業(yè)中的支柱之一。液晶面板行業(yè)的崛起，帶動(dòng)面板質(zhì)檢需求的暴增。

薄膜顯晶體管液晶顯示器（TFT-LCD）具有高分辨率和功耗低等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于顯示器行業(yè)。

但是顯示屏的生產(chǎn)過程流程多、環(huán)境等因素，難以避免會(huì)出現(xiàn)缺陷顯示屏，導(dǎo)致產(chǎn)品不良率較高。TFT-LCD顯示屏的制作包括鍍膜、刻蝕、顯影、面板組合、灌晶封口和安裝驅(qū)動(dòng)芯片等工藝，復(fù)雜的工序?qū)е氯毕莸某霈F(xiàn)，常見的缺陷包括點(diǎn)缺陷，線缺陷和Mura缺陷。

“Mura"一詞來源于日語，譯為斑點(diǎn)、臟污，也被稱為“云斑"，是顯示缺陷中最難檢測的缺陷之一。傳統(tǒng)的Mura檢測方法是通過人工視覺檢查的方式實(shí)現(xiàn)的，主要采用裸眼辨別的方法。此方法效率低下，并且容易造成視覺疲勞，從而導(dǎo)致結(jié)果正確率降低。

基于機(jī)器視覺的液晶面板檢測，可實(shí)現(xiàn)對液晶面板的各個(gè)生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測，包括Array（陣列）工藝，CF（彩膜）工藝，CELL（成盒）工藝，Module（模組）工藝，可實(shí)現(xiàn)對crack（裂紋），broken（破損），chip（崩邊），scratch（劃痕），burr（毛刺），drop（水滴）等缺陷的有效檢測區(qū)分。